Matrices de conmutación densas
Los relés reed pueden enrutar muchos canales de instrumentos en una arquitectura compacta de placa de carga, tarjeta de sonda o matriz de conmutación.
Los sistemas de prueba de semiconductores necesitan una conmutación densa y repetible, con baja fuga, un comportamiento de contacto estable y parámetros parásitos controlados para la clasificación de obleas, la prueba de encapsulados, ICT y la caracterización de dispositivos.

Los relés reed pueden enrutar muchos canales de instrumentos en una arquitectura compacta de placa de carga, tarjeta de sonda o matriz de conmutación.
La baja fuga, la alta resistencia de aislamiento y el comportamiento estable de los contactos ayudan a proteger las mediciones de pequeña corriente y alta impedancia.
Los bancos de relés modulares simplifican el mantenimiento de los bancos y admiten múltiples familias de DUT.
Enrute canales SMU, DMM, LCR o de estrés de alta tensión a los pines seleccionados protegiendo los nodos sensibles.
Conmute nodos de prueba, condiciones límite y líneas de estímulo en bancos de producción.
Admiten la selección controlada de canales para equipos de estrés, monitoreo y validación.
Utilice matrices de relés para comparar dispositivos, aislar canales y automatizar mediciones repetitivas.
Envíe la tensión, la corriente, el tipo de carga, la tensión de bobina, las restricciones de encapsulado y la aplicación prevista. SHR AUTOSENSOR puede recomendar una serie estándar o una vía de diseño personalizado.
Comparta sus requisitos de tensión, corriente, huella y ciclo de vida. Nuestro equipo de ingeniería le recomendará la solución óptima.